技術(shù)特點(diǎn)：

①采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式，可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規(guī)范要求；

②出色的溫濕度精密控制邏輯，防止待測品潮濕與結(jié)露的模式選擇；

③壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測，確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度；

④三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺停機(jī)時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等；

⑤可選購多個BIAS電壓端子，符合JESD22-A110之實(shí)驗(yàn)規(guī)范要求；

⑥濕度自由選擇飽和（99%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設(shè)定。

產(chǎn)品參數(shù)：

滿足測試標(biāo)準(zhǔn)

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗(yàn)）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)等

舉例：

    適用范圍: 該試驗(yàn)檢查芯片及其他產(chǎn)品材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
    溫度、濕度、氣壓、測試時間
    ? 通常選擇HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。
    ? 測試過程中，建議調(diào)試階段監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫，要保證結(jié)溫不能過高，并在測試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考《HTOL測試技術(shù)規(guī)范》。
    ? 如果殼溫與環(huán)溫差值或者功耗滿足下表三種關(guān)系時，特別是當(dāng)殼溫與環(huán)溫差值超過 10℃時，需考慮周期性的電壓拉偏策略。
    ? 注意測試起始時間是從環(huán)境條件達(dá)到規(guī)定條件后開始計(jì)算；結(jié)束時間為開始降溫降壓操作的時間點(diǎn)。

電壓拉偏

    uHAST測試不帶電壓拉偏，不需要關(guān)注該節(jié)；
    bHAST需要帶電壓拉偏，遵循以下原則：
    （1）所有電源上電，電壓：推薦操作范圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2）芯片、材料功耗小（數(shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法）；
    （3）輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。
    （4）其他管腳，如時鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機(jī)拉高或者拉低；