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日本理學(xué)ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀

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產(chǎn)品型號ZSX Primus IV

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產(chǎn)品簡介

采用上照射設(shè)計，再不用擔(dān)心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。集合所有ZSX系列的優(yōu)點

詳細介紹

采用上照射設(shè)計，再不用擔(dān)心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。集合所有ZSX系列的優(yōu)點：雙真空系統(tǒng)，自動真空控制，mapping/微區(qū)分析，超輕元素靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復(fù)雜樣品。30μm超薄窗光管，保證輕元素分析靈敏度。的mapping包可以檢測同質(zhì)性和夾雜物。ZSX Primus IV具備迎接21世紀實驗室挑戰(zhàn)

Features分析范圍：

Be - U 較小的占地面積微區(qū)分析上照設(shè)計 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:樣品室一直在真空環(huán)境中

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀，可以快速定量測定鈹（Be）到鈾（U）中的主要和次要原子元素，樣本類型 - 以標準。

新的ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)XRF軟件

ZSX指導(dǎo)為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個方面提供支持。準確的分析只能由專家進行嗎？不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識和熟練的專家知識，可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品，分析組分和標準組成的基本信息。具有最小重疊，背景和校正參數(shù)（包括線重疊）的測量線可以借助質(zhì)譜自動設(shè)置。

的輕元素XRF表現(xiàn)與倒置光學(xué)為可靠性的*

ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機時間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性，采用30微米的管子，這是業(yè)界的終端窗口管，可提供出色的輕元素（低Z）檢測限。

映射和多點XRF分析

結(jié)合的測繪包裝來檢測均勻性和包裹體，ZSX Primus IV可以對樣品進行簡單詳細的XRF光譜測量研究，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解?？捎玫亩帱c分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)

EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準確，速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準確度。