2025-04-07 12:03:2131
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在線詢價圖片描述：
簡單介紹：UM-1，超聲波測厚儀眾多可供選擇的探頭；校準用階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過**測
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