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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱

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產(chǎn)品型號(hào)KM-HAST-55

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地東莞市

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  HAST試驗(yàn)箱系列

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廣東科明環(huán)境儀器工業(yè)有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：102條

所在地區(qū)：廣東東莞市

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HSAT/HALT試驗(yàn)系列:滿(mǎn)足溫度范圍+105℃~+162.5℃,壓力范圍0.019~0.393Mpa

詳細(xì)介紹

英文名稱(chēng)：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test

產(chǎn)品別名：HAST壽命試驗(yàn)箱,高壓蒸煮試驗(yàn)箱、HALT、 HAST 試驗(yàn)箱,高加速溫度和濕度壓力測(cè)試箱,HAST CHAMBER,加速老化試驗(yàn)機(jī),高溫高濕高壓老化箱,加速壽命試驗(yàn)機(jī),高壓加速老化箱,壽命高加速試驗(yàn)箱,飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)箱,HAST測(cè)試箱等可靠性試驗(yàn)設(shè)備。

產(chǎn)品用途：

HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

應(yīng)用領(lǐng)域：

廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線(xiàn)路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線(xiàn)數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。

◆采用干濕球傳感器直接測(cè)量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和等3種模式)。

產(chǎn)品參數(shù)

更多型號(hào)支持非標(biāo)定制

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

當(dāng)今的技術(shù)正在朝著具有較高漏芯電流的器件的薄型/低幾何尺寸封裝發(fā)展，這會(huì)產(chǎn)生內(nèi)部功耗，進(jìn)而將水分從芯片/器件中帶走，

并阻止了與水分相關(guān)的失效機(jī)理的分析。

HAST（高度加速的溫度和濕度應(yīng)力測(cè)試）已成為設(shè)備封裝可靠性和鑒定過(guò)程的關(guān)鍵部分，它主要用于評(píng)估潮濕環(huán)境下非密封包裝設(shè)備的可靠性。這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)置和創(chuàng)建溫度-濕度-壓力的各種條件來(lái)完成的，這些條件加速了水分通過(guò)外部保護(hù)性塑料封裝的滲透，

并將這些應(yīng)力條件施加到芯片/器件上。

根據(jù)JEDEC JESD22-A110常見(jiàn)測(cè)試條件有：130°C / 85％RH / 33.3 psia和 110°C / 85％RH.17.7磅/平方英寸，持續(xù)時(shí)間：96或264小時(shí)。