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鉑悅儀器(上海)有限公司
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閱讀:29發(fā)布時(shí)間:2024-11-7
尊敬的客戶:
您好,非常感謝您長期以來對我們的支持!鉑悅儀器將出席FPD&SEMICON China 2020,在這一年一度的半導(dǎo)體行業(yè)盛會(huì)上,我們將展示新的產(chǎn)品及前沿的技術(shù),并期待與業(yè)界專家交流市場商機(jī),洽談合作機(jī)會(huì)。
在此,誠摯邀請您蒞臨我們的展位!
會(huì)議時(shí)間:2020年6月27日-29日
會(huì)議地點(diǎn):上海新國際博覽中心
鉑悅儀器(上海)有限公司
2020年6月
鉑悅展位:E1150
展示產(chǎn)品
德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)
德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì),可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
光學(xué)輪廓儀Contour GT
用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。它積累了在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了快速地三維表面測量,從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺(tái)階的測量,垂直分辨率可達(dá)亞納米級??删幊痰腦YZ控制的掃描頭自動(dòng)控制,使得儀器操作簡便易行。配備新的Vision64軟件,具有業(yè)界強(qiáng)的儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能,而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動(dòng)測量和數(shù)據(jù)分析提供了大的便利。
原子力顯微鏡Dimension FastScan Icon
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• 高分辨率成像
• 完整的納米尺度定量信息
• 潛力無限 – 靈活,開放
• 超乎想象的簡單
X射線透工業(yè)CT-EasyTom S
3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)
性能 · 微聚焦發(fā)生器:CT分辨率:2μm
· 檢測器:快掃描速度:6秒。
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