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Talos F200X透射電鏡

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更新時(shí)間：2024-11-23 22:00:25瀏覽次數(shù)：114次

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產(chǎn)品簡介

FEl Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準(zhǔn)確且量化的多維度納米材料表征。?FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級(jí)研究與分析。

詳細(xì)介紹

FEl Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準(zhǔn)確且量化的多維度納米材料表征。

FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級(jí)研究與分析。

產(chǎn)品特點(diǎn):

●更好的圖像數(shù)據(jù):

配備同步多重信號(hào)檢測的高通量STEM 成像可實(shí)現(xiàn)更好的對(duì)比度，

●從而可提供高質(zhì)量圖像

更短的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)生成時(shí)間:

快速、精確且量化的 EDS 分析可揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)

●為擴(kuò)大應(yīng)用提供空間:

添加特定于應(yīng)用的原位樣品桿以開展動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)

●更高的穩(wěn)定性: