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ontourX-200/白光干涉儀

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更新時(shí)間：2024-11-23 21:52:53瀏覽次數(shù)：83次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測(cè)量設(shè)備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關(guān)函數(shù)、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數(shù)。以及對(duì)材料表面形貌的三維測(cè)量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。型號(hào):ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等基本參數(shù):●垂直測(cè)量范圍:0.1 nm 至 10 mm●垂直分辨率:

詳細(xì)介紹

型號(hào):ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等

基本參數(shù):

●垂直測(cè)量范圍:0.1 nm 至 10 mm

●垂直分辨率:<0.1 nm

●水平分辨率:0.5 um

●XY樣品臺(tái)尺寸:150 mm (6in.)

●樣品臺(tái)移動(dòng)范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)

●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115x

技術(shù)優(yōu)勢(shì):

●設(shè)計(jì)LED雙光源設(shè)計(jì)(白光、綠光)

●PSI、VSI、USI測(cè)試模式，滿足絕大部分樣品測(cè)試需求