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時(shí)代TIME2601涂鍍層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)TIME2601

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  涂層測(cè)厚儀

德國PHYNIX涂層測(cè)厚儀

德國菲希爾涂鍍層測(cè)厚儀

德國EPK涂層測(cè)厚儀

科電涂層測(cè)厚儀

美國狄夫斯高測(cè)厚儀

英國易高Elcometer涂層測(cè)厚儀

德國QuaNix涂層測(cè)厚儀

時(shí)代涂層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品簡介

時(shí)代TIME2601涂鍍層測(cè)厚儀概要：本儀器是一種便攜式測(cè)量儀，它能快速、無損傷、準(zhǔn)確的進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量

詳細(xì)介紹

時(shí)代TIME2601涂鍍層測(cè)厚儀

概要：本儀器是一種便攜式測(cè)量儀，它能快速、無損傷、準(zhǔn)確的進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。

產(chǎn)品概述：

本儀器是一種便攜式測(cè)量儀，它能快速、無損傷、準(zhǔn)確的進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量儀 JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

例如：可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。

產(chǎn)品用途：

本儀器能可應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)較重要的儀器。

功能特點(diǎn)：

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯640個(gè)測(cè)量值；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
具有電源欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)頭型號(hào)		F400		F1	F1/90°	F10	N1	CN02
工作原理		磁感應(yīng)					渦流
測(cè)量范圍(mm)		0～400		0～1250	0～1250	0～10000	0～1250(銅上鍍鉻0～40)	10～200
低限分辨力(mm)		0.1		0.1	0.1	10	0.1	1
示值	一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)	±(3%H+1)			±(3%H+1)	±(3%H+10)	±(3%H+1.5)	±(3%H+1)
誤差	二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)	±((1～3)%H+1)	±((1～3)%H+10)	±[(1～3)%H+1.5]
測(cè) 試條件	最小曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平直	10	3	僅為平直

	最小面積的直徑(mm)	F3		F7	F7	F40	F5	F7
	基體臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5	2	0.3	無限制