電子探針

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電子探針EPMA-1720/1720(H)電子探針是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器，[1]可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成

詳細(xì)介紹

電子探針

電子探針 EPMA-1720/1720(H)

電子探針是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器， [1] 可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過加速和聚焦的窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。

可在微區(qū)領(lǐng)域進(jìn)行高靈敏度·高精度分析。控制系統(tǒng)全部數(shù)字化。觀察、分析只需使用鼠標(biāo)、鍵盤，Windows操作系統(tǒng)，使用方便,保證安全。EPMA-1720H型配備高性能CeBs燈絲，實(shí)現(xiàn)了在亞微米領(lǐng)域的分析實(shí)用化。

·分析元素:-Be ~ aU

·X射線分光器:高靈敏度型

·樣品尺寸:100mmx100mmx50mm(t)-x射線取出角:52.5°

-二次電子分辨率:6nm(EPMA-1720H為5nm)