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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

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福州精科儀器儀表有限公司

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產(chǎn)品簡介

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)

詳細(xì)介紹

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

特點(diǎn)：

外觀設(shè)計(jì)精煉

精煉的外型，全新的視覺感受。

為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI，使操作更加直觀方便。

JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機(jī)型相比，電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

四級(jí)聚光鏡系統(tǒng)

現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。該設(shè)備采用新型四級(jí)聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system"，通過分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。

掃描系統(tǒng)

JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。

皮米樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)

JEM-F200 采用能以皮米級(jí)步長移動(dòng)樣品臺(tái)的Pico stage drive(不用壓電驅(qū)動(dòng))，能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級(jí)圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。

SpecPorter(自動(dòng)插入和拔出樣品桿的裝置)

插入和拔出樣品桿，對(duì)電鏡初學(xué)者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。

改進(jìn)的冷場發(fā)射電子槍

JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配)，該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間，并且還降低了來自光源的色差，實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。

雙能譜(SDD)

JEM-F200能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對(duì)樣品的損傷更小。

環(huán)保節(jié)能

JEM-F200是個(gè)標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5，可以在裝置不運(yùn)行時(shí)，以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能，能在的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。

規(guī)格：

	超高分辨極靴	高分辨極靴
分辨率
TEM點(diǎn)分辨率	0.19 nm	0.23 nm
STEM-HAADF 像	0.14 nm @冷場槍	0.16 nm @冷場槍
STEM-HAADF 像	0.16 nm @熱場槍	0.16 nm @熱場槍
加速電壓	200 , 80 kV	200 , 80 kV
主要選配件	能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機(jī)、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)