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ST4000光學(xué)薄膜測厚儀

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產(chǎn)品簡介

簡單介紹： ST4000光學(xué)薄膜測厚儀活動(dòng)范圍 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") 測量范圍100?~ 35?(Depends on Film Type) 光斑尺寸40?/20?, 4?(option) 測量速度1~2 sec./site 應(yīng)用領(lǐng)域All Capability of ST2000 & More Precision Measur

詳細(xì)介紹

詳情介紹：

ST4000光學(xué)薄膜測厚儀

產(chǎn)品簡介：

標(biāo)準(zhǔn)模式

工業(yè)規(guī)格

適合科研中心

尺寸 500 x 610 x 640 mm

重量 45Kg

類型手動(dòng)的

測量樣本大小 ≤ 8", 12"

測量方法無連接的

測量原理反射計(jì)

特點(diǎn)
測量迅速，操作簡單

非接觸式，非破壞方式

Print Function of Each View & Data Saving

活動(dòng)范圍 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")

測量范圍 100?~ 35?(Depends on Film Type)

光斑尺寸 40?/20?, 4?(option)

測量速度 1~2 sec./site

應(yīng)用領(lǐng)域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED

選項(xiàng)
Programmable Auto Z Stage

參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)

焦點(diǎn) Coaxial Coarse and Fine Focus Controls

附帶照明 12v 100W Halogen Lamp

CM1225C NW12 AL25N CM1225 AL25D CM1160H AL25R NW1256 CM1160M CM1160L NW1253 AL24P CM1160C AL24N NW12 3490 CM1160 AL24D BT3B CM1100H AL24R CM1100M 345520 BT5A CM1100L CM1100C BT3G CM1100 BT3D AL21P CM163M AL21N TAG10 CM163L AL21D WX2282A WX2270 AL20P AL20N MA884 Mi454 MA886 AL20D M9313 M9312 M9311 MA885 M8831 MA881 M8801 AL19P AL19N SMS315 AL19D AL19R SM802 M8874 M8873 AL18P AL18N M8872 MI4700 AL18D M8871