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FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學(xué)應(yīng)用

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產(chǎn)品簡介

FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學(xué)應(yīng)用

詳細介紹

Quanta SEM 材料科學(xué)應(yīng)用

一種高級、靈活且經(jīng)過驗證的適用于多種材料表征的平臺

Quanta 旨在增加您實驗室的可發(fā)表成果。Quanta 標(biāo)準環(huán)境 SEM (ESEM) 功能可以提供額外的能力，用于處理您之前認為電子顯微技術(shù)無法處理的樣品和應(yīng)用，同時協(xié)助預(yù)測長期的材料性能。Quanta 的 ESEM 支持原位、動態(tài)實驗，可以使很多材料研究成為可能：

對水化物樣品成像。
潮濕或熱循環(huán)期間的結(jié)晶或相變。
懸浮或自組裝過程中的粒子。
金屬腐蝕。
拉伸試驗（根據(jù)需要加熱或冷卻）。

有利于動態(tài)原位實驗的多功能性

Quanta 自身的多功能性使之非常適合用于材料科學(xué)。它善于執(zhí)行傳統(tǒng)高分辨率 SEM 成像/分析，在動態(tài)原位實驗方面同樣游刃有余。Quanta 可以讓您研究自然狀態(tài)下的廣泛樣品，從而獲得最準確的結(jié)構(gòu)和組成信息：

氧化/腐蝕樣品
陶瓷材料、復(fù)合材料、塑料
薄膜和涂層
軟材料：聚合物、藥物、凝膠
顆粒物、多孔材料、纖維

一系列多功能、高性能儀器

Quanta 系列包括：

Quanta 250 和 Quanta 250 FEG
Quanta 450 和 Quanta 450 FEG
Quanta 650 和 Quanta 650 FEG

Quanta 掃描電子顯微鏡具有三種模式（高真空、低真空和 ESEM），能夠處理的樣品類型堪稱 SEM 系統(tǒng)。所有 Quanta SEM 系統(tǒng)均可配備分析系統(tǒng)，比如能量色散譜儀、X 射線波長色散譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)。此外，場發(fā)射電子槍 (FEG) 系統(tǒng)含有一個用于明場和暗場樣品成像的 S/TEM 檢測器。SEM 系統(tǒng)中的另一個可變配置是電動載物臺的尺寸（Quanta 250 為 50 mm、Quanta 450 為 100 mm、Quanta 650 為 150 mm）以及電動 Z 軸行程的大?。ǚ謩e為 25 mm、60 mm 和 65 mm）。Quanta 650 和 650 FEG 都設(shè)計了大標(biāo)本室，能夠分析和瀏覽大型標(biāo)本。