美國Megger  雙接地微歐儀表

專門設(shè)計(jì)用于測量斷路器、隔離開關(guān)、母線接頭和其他此類設(shè)備中的接觸電阻

使用獲得的DualGround™技術(shù)進(jìn)行更安全的測試，以測試兩側(cè)接地的斷路器

全自動(dòng)測試 - 微處理器控制

寬測量范圍和測試電流

大功率和輕量級(jí)

正在運(yùn)行：

環(huán)境：-20Cto+50C（-4Fto+122F）

溫度：-40Cto+70C（-40Fto+158F）

存儲(chǔ)和運(yùn)輸濕度：5%-95%相對(duì)濕度，非冷凝

尺寸：410x330x175mm（16.1英寸x136.9）

重量：73千克（16.1磅）

液晶顯示器：LCD

可用語言: 英語、德語、法語、西班牙語、斯文斯卡語

打印機(jī): 熱敏紙卷

熱敏打印機(jī): 寬度57 mm。直徑32 mm

輸出

   DC+/COM

范圍

   5-200 A DC（1 A步進(jìn)）

輸出電壓:    

     5.25Vat200A 80

     at0-50攝氏度（+32英尺+122華氏度）

紋波

   mVpp28.3

負(fù)載能力

   不斷的: 200A

   輸出300/A

分路輸出:  

   來自200A±1%時(shí)的內(nèi)部分流器60mV

輸入靈敏度

    可調(diào)0.1-20 mV/A

輸入阻抗

    >1 MQ

    在25攝氏度的環(huán)境溫度下

美國Megger  雙接地微歐儀表

專門設(shè)計(jì)用于測量斷路器、隔離開關(guān)、母線接頭和其他此類設(shè)備中的接觸電阻

使用獲得的DualGround™技術(shù)進(jìn)行更安全的測試，以測試兩側(cè)接地的斷路器

全自動(dòng)測試 - 微處理器控制

寬測量范圍和測試電流

大功率和輕量級(jí)

MJ?LNER 系列設(shè)計(jì)用于測量斷路器觸點(diǎn)、母線接頭、母線中的觸點(diǎn)元件和其他高電流鏈路的電阻。該產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)考慮了安全性，易用性和多功能性。它可以在任何地方使用，以高精度測量低電阻值。它對(duì)母線、斷路器、保險(xiǎn)絲等進(jìn)行真正的直流無紋波電流測試。

正在運(yùn)行：

環(huán)境：-20Cto+50C（-4Fto+122F）

溫度：-40Cto+70C（-40Fto+158F）

存儲(chǔ)和運(yùn)輸濕度：5%-95%相對(duì)濕度，非冷凝

尺寸：410x330x175mm（16.1英寸x136.9）

重量：73千克（16.1磅）

液晶顯示器：LCD

可用語言: 英語、德語、法語、西班牙語、斯文斯卡語

打印機(jī): 熱敏紙卷

熱敏打印機(jī): 寬度57 mm。直徑32 mm

輸出

   DC+/COM

范圍

   5-200 A DC（1 A步進(jìn)）

輸出電壓:    

     5.25Vat200A 80

     at0-50攝氏度（+32英尺+122華氏度）

紋波

   mVpp28.3

負(fù)載能力

   不斷的: 200A

   輸出300/A

分路輸出:  

   來自200A±1%時(shí)的內(nèi)部分流器60mV

輸入靈敏度

    可調(diào)0.1-20 mV/A

輸入阻抗

    >1 MQ

    在25攝氏度的環(huán)境溫度下